Качество электронно-микроскопического исследования напрямую зависит от подготовки образца. Правильная пробоподготовка — залог достоверных результатов и воспроизводимости данных.
Основные направления пробоподготовки
Для СЭМ (сканирующая электронная микроскопия)
Напылительные установки (Sputter Coaters)
- •Нанесение проводящих покрытий (Au, Pt, Pd, C) на непроводящие образцы
- •Толщина покрытия: 1–50 нм
- •Магнетронное и ионное напыление
Системы критической точки сушки (CPD)
- •Предотвращение деформации биологических образцов при сушке
- •Замена воды на жидкий CO₂ с последующим переходом через критическую точку
Для ТЭМ (просвечивающая электронная микроскопия)
Ультрамикротомы
- •Получение ультратонких срезов толщиной 30–100 нм
- •Алмазные и стеклянные ножи
- •Модели для рутинных и криосрезов
Системы ионного утонения
- •Финальное утонение образцов до электронной прозрачности
- •Аргоновое ионное травление с прецизионным контролем
- •Подготовка поперечных сечений для материаловедения
Криоприставки
- •Витрификация (быстрое замораживание) биологических образцов
- •Крио-ТЭМ для исследования нативных структур
Универсальные системы
Ионно-лучевое травление (Ion Milling)
- •Создание гладких сечений для СЭМ-анализа
- •Подготовка ТЭМ-ламелей из FIB-заготовок
Плазменные очистители (Plasma Cleaners)
- •Удаление органических загрязнений с поверхности образцов и держателей
- •Гидрофилизация подложек
Рекомендации по выбору
| Задача | Рекомендуемое оборудование |
|---|---|
| Непроводящие образцы → СЭМ | Напылительная установка |
| Биологические образцы → СЭМ | CPD + напыление |
| Биологические образцы → ТЭМ | Ультрамикротом + крио |
| Материалы → ТЭМ | Ионное утонение |
| Полупроводники → ТЭМ | FIB + ионная полировка |
KombiMED предлагает комплексные решения по пробоподготовке от ведущих производителей: Hitachi, Leica Microsystems, Gatan.
Свяжитесь с нами для подбора оборудования пробоподготовки под ваши задачи.