ГлавнаяБлогСканирующая электронная микроскопия: как выбрать СЭМ для лаборатории

Сканирующая электронная микроскопия: как выбрать СЭМ для лаборатории

Статья

Сканирующая электронная микроскопия: как выбрать СЭМ для лаборатории

Сканирующий электронный микроскоп в лаборатории

Настольные СЭМ: быстро, просто, доступно

Настольные СЭМ идеальны для лабораторий, которым нужен быстрый визуальный контроль без сложной пробоподготовки.

Hitachi TM4000Plus / TM4000PlusII

Флагман настольной линейки сочетает впечатляющее увеличение (×10–×100 000) с исключительной простотой.

ПараметрЗначение
Ускоряющее напряжение5 / 10 / 15 / 20 кВ
Детекторы4-сегментный BSE + UVD
Макс. образец⌀80 мм × 50 мм
Габариты330 × 614 × 547 мм, 52 кг

Преимущества:

  • Готовность за 3 минуты от включения
  • Смена образца за 2 минуты
  • Работа без напыления (низкий вакуум)
  • Возможность ЭДС-анализа (опция)

Идеален для: контроля качества, геологии, криминалистики, образования.

Аналитические СЭМ: баланс возможностей и стоимости

Для задач, требующих более высокого разрешения и расширенной аналитики, Hitachi предлагает компактные аналитические СЭМ с вольфрамовым катодом.

Hitachi FlexSEM SU1000

Первый аналитический СЭМ, работающий от одной розетки — без внешних систем охлаждения и вакуумных насосов.

ПараметрЗначение
Разрешение4 нм (20 кВ, HV)
Ускоряющее напряжение0,3–20 кВ
Увеличение×6–×300 000
СтоликX 40 мм, Y 50 мм, наклон −15°…+90°

Ключевые особенности:

  • SEM MAP — встроенная навигационная камера для быстрого позиционирования
  • Один кабель питания — минимальные требования к инфраструктуре
  • Совместимость с ЭДС/EBSD — полноценная аналитическая станция

Hitachi SU3900 — универсальный аналитический СЭМ с увеличенной камерой для образцов до 200 мм. Предназначен для геологии, металлургии, электроники.

Автоэмиссионные FE-SEM: субнанометровое разрешение

Для передовых исследований в нанотехнологиях и полупроводниковой промышленности необходимы FE-SEM с холодным или термополевым эмиттером.

Серия Regulus (холодный катод)

МодельРазрешениеОсобенности
Regulus 81001,1 нм / 1 кВКомпактный начальный уровень
Regulus 82200,7 нм / 1 кВЭДС/EBSD/WDS
Regulus 82300,6 нм / 1 кВIn-situ эксперименты

SU7000 (Schottky) — автоматизированный аналитический FE-SEM. SU8600 (холодный катод) — сверхвысокое разрешение + STEM при 30 кВ.

Области применения: нанотехнологии, полупроводники, катализ, биология ультраструктурного уровня.

Как выбрать СЭМ: критерии

КритерийНастольныйАналитический W-SEMFE-SEM
Разрешение10–50 нм3–15 нм< 1 нм
ПробоподготовкаМинимальнаяСтандартнаяТщательная
АналитикаБазовая ЭДСЭДС, EBSDЭДС, EBSD, WDS, STEM
Стоимость€€€€€
ИнфраструктураСтол + розеткаСтол + розеткаВиброзащита, чистое помещение
ПерсоналЛаборантСпециалистОпытный оператор

Рекомендации: 1. Для контроля качества, обучения, скрининга → настольный СЭМ (TM4000Plus) 2. Для материаловедения, геологии, среднего уровня исследований → аналитический СЭМ (FlexSEM SU1000 / SU3900) 3. Для нанотехнологий, полупроводников, передовых исследований → FE-SEM (Regulus / SU7000)

KombiMED — ваш партнёр по электронной микроскопии

KombiMED — авторизованный дистрибьютор Hitachi High-Tech в Центральной Азии, на Кавказе и в Восточной Европе. Мы обеспечиваем:

  • Подбор оптимальной конфигурации СЭМ
  • Поставку, инсталляцию и пусконаладку
  • Обучение персонала
  • Сервисное обслуживание и поставку расходных материалов
  • Техническую поддержку на всём протяжении срока эксплуатации

Свяжитесь с нами для получения коммерческого предложения и демонстрации оборудования.

Смотрите также:

Интересует это направление?

Свяжитесь с нами для получения персонального предложения.

Связаться